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[发明专利]AVSS管脚及VSS管脚的开路测试方法-CN201610169575.5有效
发明人：冯明亮 -专利权人：瑞萨集成电路设计(北京)有限公司
申请日： 2016-03-23 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种AVSS管脚及VSS管脚的开路测试方法，其中，AVSS管脚的开路测试方法包括：在芯片的AVSS系管脚中，选取一个管脚作为测试管脚，其中，AVSS系管脚是芯片的所有管脚中使用模拟电源进行供电的管脚；对AVSS系管脚中的其余管脚印加电流，并测量测试管脚的电压；将测试管脚的电压值与预先得到的AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值进行比较；如果测试管脚的电压值高于AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值，则确定AVSS管脚开路；其中，芯片的AVSS与VSS管脚通过引线框架短接。本发明对VSS与AVSS管脚通过引线框架短接的芯片，能够判断出AVSS或VSS管脚是否开路，且测试时间较短。
管脚测试管脚开路开路测试芯片引线框架短接模拟电源加电流测量测试供电脚印

[发明专利]一种阵列基板的检测线路及阵列基板-CN201510059935.1有效
发明人：田勇;赵莽 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司;武汉华星光电技术有限公司
申请日： 2015-02-04 - 公布日： 2018-01-05 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：一种阵列基板的检测线路及阵列基板，其中，检测线路包括信号管脚区，其包括多个信号管脚，信号管脚与阵列基板中的信号线对应连接；测试管脚区，其包括多个测试管脚；扇出走线区，其连接在信号管脚区与测试管脚区之间，包括多条扇出走线，信号管脚通过扇出走线连接至部分测试管脚，与信号管脚连接的测试管脚均互不相邻，从而使得扇出走线区的高度减小。
一种阵列检测线路

[发明专利]一种测试方法及测试装置-CN202310857203.1在审
发明人：朱智惟;陈宏宗 -专利权人：长鑫科技集团股份有限公司
申请日： 2023-07-12 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本公开实施例提供了一种测试方法，用于测试被测芯片，被测芯片包括至少一个外部管脚和至少一个内部管脚，外部管脚为被引出连接至测试探针的数据管脚，内部管脚为未被引出连接至测试探针的数据管脚，该方法包括：确定测试管脚；测试管脚为不存在缺陷的外部管脚，测试管脚与N个内部管脚连接，N为大于0的整数；通过测试管脚向N个内部管脚中写入预设数据序列；对N个内部管脚进行数据读取，确定目标数据序列；根据预设数据序列和目标数据序列，确定测试结果。这样，可以实现在测试探针的资源有限的情况下，准确定位出发生缺陷的内部管脚，从而给工程分析提供了更加便利和精准的数据。
一种测试方法装置

[发明专利]半导体集成电路以及测试系统-CN200510066593.2无效
发明人：木庭知男;永沼英树 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2005-04-28 - 公布日： 2005-11-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的目的在于实现容易地进行利用电流逻辑信号的测试的半导体集成电路以及测试系统。本发明对具有输出电流逻辑信号的多个信号管脚的半导体集成电路以及测试系统进行了改进。半导体集成电路具有：输出电流逻辑信号的多个信号管脚；在测试时与I/V变换器电气连接的测试管脚；从多个信号管脚中选择一个信号管脚，再将上述一个信号管脚连接在测试管脚上的选择部；以及输入用于控制选择部的选择信号的选择管脚并且，测试系统具有：上述半导体集成电路；在测试时被连接在半导体集成电路的测试管脚上、将从测试管脚输出的电流逻辑信号变换成电压逻辑信号的I/V变换器；以及被输入从I/V变换器输出的电压逻辑信号的IC测试器
半导体集成电路以及测试系统

[发明专利]一种热敏片FPC焊接故障检测方法、装置、电子设备及介质-CN202011420919.8在审
发明人：郭晋鹏;杜伟 -专利权人：珠海泽冠科技有限公司
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：其中方法包括：向FPC的目标管脚输入第一电平；检测测试管脚的第一测试电压，测试管脚与目标管脚相邻，若第一测试电压与第一电平相同，则判断测试管脚与目标管脚发生短路故障，若第一测试电压与第一电平不相同，则判断测试管脚与目标管脚没有短路故障，进入步骤S3；向FPC的共地管脚输入第二电平；检测其他非共地管脚的第二测试电压，若检测到第二测试电压为0，则判断非共地管脚发生虚焊故障，若检测到第二测试电压不为0，则判断非共地管脚没有虚焊故障。
一种热敏 fpc 焊接故障检测方法装置电子设备介质

[发明专利]一种测试向量生成方法、装置及存储介质-CN202210167471.6在审
发明人：钱静洁 -专利权人：无锡玖熠半导体科技有限公司
申请日： 2022-02-23 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本申请公开了一种测试向量生成方法、装置及存储介质，涉及芯片领域，方法包括：获取测试芯片的测试网表，测试网表中包含测试芯片的扫描链中所有逻辑电路的测试节点及对应的测试管脚；根据测试网表确定测试芯片的目标测试类型和测试管脚的信号值，信号值用于对测试芯片的测试节点进行故障检测；基于测试管脚和测试值进行逻辑仿真，根据仿真输出值生成测试管脚的测试向量，并对具有相同测试向量的所述测试节点进行合并，获得合并后的目标测试向量。本发明通过标定测试网表中测试节点的方式来生成测试节点的测试向量，相比于根据测试管脚的数量来检测测试芯片，可以实现对测试向量的去冗余，且可以减少检测次数，提高芯片检测的测试效率。
一种测试向量生成方法装置存储介质

[发明专利]存储器的联合测试行动组测试方法和装置-CN201010581307.7有效
发明人：黄健立;赵莹 -专利权人：普天信息技术研究院有限公司
申请日： 2010-12-06 - 公布日： 2012-06-06 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供两种存储器的联合测试行动组JTAG测试方法和装置，针对不具备JTAG测试管脚的存储器，利用其所属单板上具有JTAG测试管脚的芯片实现测试，无需将存储器夹在两片具有JTAG测试管脚的芯片之间，也无需大量的辅助器件
存储器联合测试行动方法装置

[发明专利]一种检测电路及阻抗检测方法-CN202210771951.3在审
发明人：晏永华 -专利权人：联想（北京）有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01R31/69 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种检测电路及阻抗检测方法，该检测电路包括第一电阻、第一电容和处理器，第一电阻的第一端与第一电容的第一端电连接，第一电阻的第二端与第一电容的第二端与参考地连接；且第一电容的第一端连接待测试管脚；其中，处理器用于检测待测试管脚的电性参数，基于电性参数由第一值到第二值的变化确定第一电容的放电时间；并根据放电时间与预设时间阈值的比较结果，确定待测试管脚的状态。这样，能够通过待测试管脚的电性参数确定第一电容的放电时间，进而通过第一电容的放电时间快速判断待测试管脚的状态；从而实现了对待测试管脚是否有异物的快速筛查，缩短了检测时间。
一种检测电路阻抗方法

[发明专利]驱动芯片、显示模组、显示面板与显示面板的测试方法-CN202110960429.5有效
发明人：胡振文;喻勇;贾群;孙浩;牟仕浩 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
申请日： 2021-08-20 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G09G3/3208 文献下载
摘要：本公开提供了一种驱动芯片、显示模组、显示面板与显示面板的测试方法，属于显示技术领域。该驱动芯片包括：第一测试管脚、驱动单元与数据选择单元；驱动单元被配置为驱动显示面板进行显示；数据选择单元的输入端与第一测试管脚连接，输出端与驱动芯片的驱动单元连接，数据选择单元被配置为接收从第一测试管脚输入的多个测试信号与控制信号，并根据控制信号选取多个测试信号中的目标测试信号，驱动单元根据选取的目标测试信号驱动显示面板进行测试。能够减少测试管脚，有利于驱动芯片尺寸减小，降低产品成本。
驱动芯片显示模组面板测试方法

[发明专利]测试功能组件及数据调试方法-CN201680077024.4有效
发明人：张瑞荣;杜维;齐少敏;裴家俊 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2016-03-31 - 公布日： 2020-07-21 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：实施例提供了一种测试功能组件(200)及数据调试方法，该测试功能组件(200)包括：系统芯片SOC(202)、USB切换组件(204)以及USB Type‑C接口(206)；SOC(202)包含联合测试工作组JTAG模块(302)，JTAG模块(302)引出调试管脚组和配置管脚组；USB Type‑C接口(206)包含CC管脚以及传输管脚组；JTAG模块(302)的调试管脚组和配置管脚组均与USB切换组件(204)相连；USB Type‑C接口(206)的第一CC管脚以及传输管脚组均与USB切换组件(204)相连；USB切换组件(204)用于当通过第一CC管脚接收到用于指示进入调试模式的第一厂商定义消息VDM时，将调试管脚组中的各调试管脚与传输管脚组中的各传输管脚对应连接，并根据第一VDM生成对应的配置指令；JTAG模块(302)用于当通过所述配置管脚组接收到配置指令时，通过调试管脚组输出与配置指令对应的调试数据
测试功能组件数据调试方法

[实用新型]一种印刷电路板组件测试治具-CN202320476232.9有效
发明人：张思源;林喆;董建超 -专利权人：上海商米科技集团股份有限公司;深圳米开朗基罗科技有限公司
申请日： 2023-03-10 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供一种印刷电路板组件测试治具，包括底部框架、基板、印刷电路板组件承载板和测试管脚支撑板；底部框架用于对测试治具整体进行稳固，基板装载于底部框架上或通过第一支撑柱组装设于底部框架上方；印刷电路板组件承载板置于基板上，或通过第二支撑柱组装设于基板上方并可拆卸；印刷电路承载板上表面的周边区域设有用于固定待测试印刷电路板组件的固定件；测试管脚支撑板通过第三支撑柱组装设于印刷电路板组件承载板上方；测试管脚支撑板用于穿设对印刷电路板组件进行管脚测试的管脚连接针，或在测试管脚支撑板位于印刷电路板组件承载板的一面装设有用于对印刷电路板组件进行管脚测试的管脚连接针。
一种印刷电路板组件测试

[发明专利]芯片、芯片检测系统及检测方法-CN202210217910.X在审
发明人：李刚;罗春艺 -专利权人：炬芯科技股份有限公司
申请日： 2022-03-07 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种芯片、芯片检测系统及检测方法，所述芯片包括至少一个焊盘PAD；其中至少一个所述焊盘PAD为待测PAD，所述芯片还包括与所述待测PAD电性连接的辅助PAD，所述待测PAD和所述辅助PAD分别与测试电路板的测试管脚一一对应电性连接，以通过分别检测所述测试管脚的对地电压，由此根据所述测试管脚的对地电压可以计算出所述待测PAD和与所述待测PAD电性连接的测试管脚之间的接触阻抗的电阻值。
芯片检测系统方法

[发明专利]一种高精度运放混合测试系统及方法-CN202310925866.2在审
发明人：朱柯嘉;何捷;王朗圆 -专利权人：共模半导体技术（苏州）有限公司
申请日： 2023-07-26 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种高精度运放混合测试系统及方法，该系统包括芯片部分和与芯片部分一并封装的四个封装管脚；芯片部分包括功能模块、测试模块和一个测试管脚，所述的功能模块为常规高精度运放电路，所述的测试模块用于完成运放的测试和校正，第三、第四封装管脚与功能模块相连，第一、第二封装管脚与测试模块相连，与测试模块相连的第一、第二封装管脚同时与功能模块相连，所述测试管脚与测试模块相连，用于芯片生产中中的CP阶段测试。本发明通过定义两线OTA测试接口并与标准的三线SPI混合，增加非封装测试管脚，一方面解决了高精度运放测试精度的问题，另一方面提高了整体的测试速度，降低了测试成本。
一种高精度混合测试系统方法

[实用新型]光电耦合器鉴别电路-CN201320606868.7有效
发明人：谢秋阳 -专利权人：谢秋阳
申请日： 2013-09-29 - 公布日： 2014-07-02 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光电耦合器鉴别电路，其包括电池供电单元，电池供电单元正极一路经过红色闪烁发光二极管VD1与测试管脚插孔a连接，另一路依次经过电阻器、绿色发光二极管VD2与测试管脚插孔c连接，测试管脚插孔b与测试管脚插孔d与电池供电单元负极连接；测试管脚插孔是由二号大头针上紧密缠绕若干圈裸铜丝，且在其尾部留出长度大于3cm的焊接引线，焊接引线上套有绝缘管后制成；电池供电单元采用4F20-6V型叠层干电池
光电耦合器鉴别电路

[发明专利]无测试管脚接触式CPU卡测试方法-CN200610114093.6无效
发明人：张海峰 -专利权人：北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2006-10-27 - 公布日： 2008-04-30 - 主分类号： G06F11/267 文献下载
摘要：本发明提供一种无测试管脚接触式CPU卡测试方法，主要应用于程序存储器是电可擦写存储器的CPU卡。通过IC卡的IO管脚将对程序存储器的擦写控制信号以及擦写的地址、数据串行的送入，完成对程序存储器的擦写功能。这样芯片的功能测试程序就可以通过IO串行送入并写入程序存储器中，再运行程序存储器中的功能测试程序就可以完成对芯片的功能测试了。本测试方式中测试管脚复用了IC卡的标准管脚，不会增加单独的芯片测试管脚，这样既增加了芯片的安全性又可以减小芯片的面积。
测试管脚接触 cpu 方法

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